晶圆湿法制程服务由于晶圆制造要求的精度极高,即使肉眼不可见的微小污染在芯片上也是“庞然大物”,容易造成晶片内电路功能的损坏,导致集成电路的失效,影响几何特征的形成。优彼思提供晶圆湿法制程服务,在不破坏晶圆表面特性及电特性的前提下,有效使用化学溶液清除残留在晶圆上的微尘、金属离子及有机物的杂质,达到去除晶圆表面污染物的目的。
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